脑损伤是导致婴儿死亡和长期残疾的主要原因之一。其中最常见的之一是新生儿缺氧缺血性脑病（HIE），每年每1000名活产婴儿中有1到3名受到影响，占全球婴儿死亡的22%。仅稍不那么常见的是围产期动脉缺血性卒中（PAIS）。
这两种情况都可能影响中枢神经系统，在出生后引发脑损伤和癫痫发作，并在孩子成长多年后导致神经和发育问题。
虽然HIE和PAIS在表面上看起来相似，但发表在《儿科研究》杂志上的一项研究表明，它们的潜在机制完全不同。HIE是由大脑血流和氧气的整体减少引起的，而PAIS则是由血栓进入大脑的主要动脉血管引起的。
目前针对HIE的标准治疗是通过降温疗法减缓因缺氧引发的细胞和分子损伤及炎症。
研究人员利用一个大型多中心临床试验的数据，研究HIE治疗进展，包括洛杉矶儿童医院的Jessica Wisnowski博士在内的多个美国儿科医院的研究人员，着手探索在被诊断为HIE的婴儿中PAIS的发生频率。
他们还试图将PAIS的存在与临床特征相关联，如癫痫风险、脑复温后的脑病率以及2岁时的神经发育结果。
研究设置和结果
研究数据包括473名在分娩后六小时内被诊断为中度或重度HIE的婴儿，这些婴儿参加了HEAL试验并接受了脑部MRI检查。
研究人员发现：
- 4%的中重度HIE婴儿在MRI上显示出PAIS的证据。
- 四分之三的PAIS婴儿也表现出HIE型脑损伤，并经历了比没有PAIS的婴儿更严重的并发症。
- 癫痫在PAIS婴儿中更为常见。
- 治疗五天后，PAIS婴儿更有可能持续出现中度或重度脑病，而没有PAIS的婴儿则较少见。
- 尽管HIE婴儿数量众多，但只有21例患有PAIS，这限制了研究人员检测两年结果统计显著差异的能力。
尽管研究人员已经取得了进展，了解HIE和PAIS同时发生的频率，但仍需进一步研究以了解这两种不同新生儿脑损伤的确切时间和发病机制。
可能的解释包括：
- HIE和PAIS具有类似的危险因素，如绒毛膜羊膜炎和胎盘疾病。
- HIE可能需要使用体外膜肺氧合（ECMO）进行治疗，而ECMO本身是PAIS的风险因素，在PAIS婴儿中更为常见。
- 分娩过程中发生PAIS可能导致更困难和更长时间的分娩，从而增加HIE的风险。
研究结果表明，大规模研究有助于改善新生儿脑损伤的干预措施。
“这项研究强调了脑MRI在识别接受HIE低温治疗婴儿所有脑损伤原因的重要性，”Wisnowski博士说。“我们希望这项研究能帮助指导诊断和治疗的进步，以应对这些导致婴儿死亡和长期残疾的主要原因。”
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