核心观点：
在接受皮下植入式心律转复除颤器（S-ICD）的患者中，未进行除颤测试（DT）与死亡率、以及适当和不适当电击发生率之间没有显著差异。然而，肥胖和高电击阻抗可预测测试失败。
研究方法：
- 当前指南建议在S-ICD植入过程中进行DT；但关于未进行DT对死亡率和电击效果的影响存在矛盾结果。
- 研究人员分析了一项正在进行的观察性研究中的数据，该研究包括2012年10月至2019年12月期间在法国接受S-ICD植入的4924名患者。
- 分析比较了接受DT的患者（n = 4066；平均年龄49.6岁；女性占23.6%）与未接受DT的患者（n=858；平均年龄51.2岁；女性占22.1%），平均随访时间为4.2年。
- 主要结局包括总体死亡率、心血管死亡率、猝死、猝死或不明原因死亡的复合终点，以及适当和不适当的电击事件。
关键结论：
- 未进行DT与任何结局风险增加无关，包括所有与死亡相关的终点、以及适当和不适当电击的发生率。
- DT在99%的患者中成功完成；测试失败的独立预测因素为肥胖（校正比值比[aOR]，2.17；P = .042）和电击阻抗≥89Ω（aOR，4.60；P < 0.05）。
- 所有无效的适当电击仅发生在接受过测试的患者中。
- 与测试相关的严重并发症发生率为0.07%，并报告了两例相关死亡病例。
临床实践意义：
研究人员报告称：“这些发现表明，对于大多数S-ICD接受者而言，省略DT（除颤器测试）可能是安全的，这挑战了所有病例中常规测试的必要性。”
“第四点，据我们所知，这是第一项报告直接与S-ICD测试相关的并发症发生率的研究，估计约为……”
“例行执行DT的风险-效益比似乎更倾向于不进行常规测试，”来自俄亥俄州立大学韦克斯纳医学中心的Raul Weiss医生和Jose Sleiman Morales医生在一篇社论中写道。
他们补充道：“因此，一种合理的做法是在窦性心律下进行低风险的10焦耳同步电击，以评估系统的高压（HV）阻抗。如果阻抗升高（Z > 90Ω），则应重新评估系统植入特征，特别注意将发生器植入后部或最好是肌肉间位置，并尽量缩短电击线圈与胸骨之间的距离。这些措施可能降低HV阻抗。如果数值仍然较高，则在这种情况下，DT或许具有临床价值。”
来源：
本研究由巴黎欧洲乔治·蓬皮杜医院（European Georges Pompidou Hospital）的Fawzi Kerkouri博士和M.P.H.领导，于2025年6月30日在线发表于《美国心脏病学会杂志》（Journal of the American College of Cardiology）。
局限性：
临床医生可能在低风险患者或手术特征良好的患者中省略了DT，从而引入选择偏倚。尽管进行了调整，残余混杂因素仍可能存在。一些猝死病例可能被误分类为不明原因死亡。
披露声明：
本研究由法国心脏病基金会（French Federation of Cardiology）和法国心脏病学会（French Society of Cardiology）资助。研究中使用的设备由波士顿科学公司（Boston Scientific）制造，该公司支持了研究调查人员的年度会议。多名作者报告曾担任波士顿科学公司的顾问和/或从该公司获得费用。
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